[实用新型]一种多通道芯片测试设备有效
申请号: | 202120034235.8 | 申请日: | 2021-01-07 |
公开(公告)号: | CN215180662U | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | 王焰华 | 申请(专利权)人: | 深圳市富伟电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518104 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种多通道芯片测试设备,包括测试设备本体和支撑箱,所述支撑箱顶部的四角均固定连接有支撑柱,所述支撑柱的顶部固定连接有支撑板,所述支撑板的底部固定连接有电推杆,所述电推杆的底部固定连接有散热箱,散热箱内腔顶部的两侧均固定连接有固定板,两个固定板之间固定连接有散热管,散热管的底部连通有散热喷头。本实用新型通过测试设备本体、支撑箱、支撑柱、支撑板、电推杆、散热箱、固定板、散热管、散热喷头、输送软管、定位板、限位柱、弹簧、限位块、限位板、固定箱、散热风机、进风管和出风管的配合使用,能够对测试芯片进行限位固定,并能够有效的降低芯片测试时的温度,保护芯片不会因高温损坏。 | ||
搜索关键词: | 一种 通道 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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