[实用新型]一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构有效
| 申请号： | 202120068292.8 | 申请日： | 2021-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN214011434U | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 刘赫;史雁辉;赵璞玉;张昭伟;杜雪飞 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;B25B11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150080 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构，测试装置包括底板、预警板、固定板和测试板，所述底板顶部与测试板底部固定连接，所述固定板底部与预警板顶部活动连接，所述底板包括曲型板，所述曲型板内部开设有预警孔，所述底板顶部固定连接有提醒板，所述底板顶部固定连接有弹簧管，所述弹簧管内顶壁固定连接有细杆，所述弹簧管内底壁固定连接有一号弹簧，正常的情况下，横支杆相远离的一端与曲型板内壁活动连接，当预警板顶部压力过大时，使得预警板向下运动，在下降过程中，挤压板由于二号弹簧的作用，会将挤压板向预警板左右两侧弹出，并敲击提醒板，可以提醒工作人员，防止意外的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 性能 测试 装置 及其 固定 结构 预警 | ||
【主权项】：
暂无信息
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