[实用新型]一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置有效
申请号: | 202120166387.3 | 申请日: | 2021-01-21 |
公开(公告)号: | CN214555439U | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 张正荣;颜呈祥 | 申请(专利权)人: | 江苏捷捷微电子股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 卢海洋 |
地址: | 226200 江苏省南通*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种快速检测可控硅带载与散热能力的装置,包括交流电源、大功率负载、被测可控硅、主控电路、开关电路、电流检测电路、过零检测电路、显示电路和外部温度检测电路;交流电源用于提供电源信号;主控电路用于控制被测可控硅导通角度、调节有效电流值;开关电路用于回路的导通、关断;电流检测电路用于检测有效电流。采用本实用新型的装置的试验方法的测试时间较快,一般从准备工作到测试完成基本控制在半小时内,效率较高。可以有效对比同样电流下,同样工作时长下的可控硅的发热状态,来选择性价比最高的可控硅。本实用新型大大的缩短了测试周期,降低了测试成本,提高设计效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 快速 检测 可控硅 散热 能力 装置 | ||
【主权项】:
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