[实用新型]高灵活性芯片测试治具有效
申请号: | 202120462474.3 | 申请日: | 2021-03-04 |
公开(公告)号: | CN214622928U | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 胡昌水 | 申请(专利权)人: | 深圳市山特精工有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市众元信科专利代理有限公司 44757 | 代理人: | 王宣玲 |
地址: | 518106 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体的说是高灵活性芯片测试治具,包括:固定组件,所述固定组件包括有底座,所述底座内部设置有磁吸槽,所述磁吸槽内部磁力连接有磁吸脚;芯片测试治具本体,所述芯片测试治具本体包括有测试仓,所述测试仓下表面固定连接有磁吸脚;本实用新型通过转动丝杆可以调整传动板的高度,从而可以调整对芯片的压力,使得操纵人员可以根据需要调整测试治具的压力,通过将芯片放入测试仓内进行压紧操作后完成快速测试,本实用新型通过测试板进行与芯片进行连接,然后通过USB接口进行数据传输,检测测试芯片的好坏,本实用新型通过按动按钮,解除卡杆与卡扣的卡紧连接,可以将芯片取出,完成快速测试。 | ||
搜索关键词: | 灵活性 芯片 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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