[实用新型]一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置有效
| 申请号： | 202120517755.4 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN214251464U | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 韦文勇;齐斌斌;何海生;何栢根 | 申请（专利权）人： | 深圳市创元微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 冯建华;宋鹏跃 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观湖*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种支持MIPI C‑PHY显示模组老化测试装置，包括：主控MCU，分别与所述主控MCU连接的存储单元、FPGA、电流测量电路、供电电源，与所述FPGA连接的若干SSD2832桥接芯片、DDR3存储，与所述SSD2832桥接芯片电连接的MIPI接口；所述MIPI接口与待测显示模组的驱动IC电连接。本实用新型既可用于MIPI D‑PHY接口屏幕的测试也可用于MIPI C‑PHY接口屏幕的测试，实用性强；可同时进行多个待测屏幕测试，有效提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 支持 mipi phy 显示 模组 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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