[实用新型]一种电子元件的缺针测试治具有效
| 申请号： | 202120599301.6 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN214585777U | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 李娜 | 申请（专利权）人： | 深圳市北辰电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市成为知识产权代理事务所(普通合伙) 44704 | 代理人： | 李罡 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子元件的缺针测试治具，包括测试框架、测试槽、针槽、架体调节滑槽、调节滑块、夹持架、螺纹调节滑槽、螺纹滑块、螺纹杆、夹持板、弹性垫片、连接线、观察架、感应灯、安装槽、安装滑块和电池体，所述测试框架的内部开设有测试槽，且测试槽的内部设置有针槽，所述测试框架的前后两端均开设有架体调节滑槽，且架体调节滑槽的内部连接有调节滑块，所述螺纹滑块的一侧端部连接有夹持板，且夹持板的底部连接有弹性垫片，所述安装滑块的一侧端部连接有电池体。该电子元件的缺针测试治具通过与针槽对应的感应灯能够让其进行通电感应，从而当针脚坏时感应灯不通电，针脚好时顺利通电，感应灯亮起从而达到检测的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 测试 | ||
【主权项】：
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