[实用新型]一种芯片检测机构的上下料装置有效

专利信息
申请号: 202120660344.0 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN215796825U 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 王鹤立;刘汉奎;李强 申请(专利权)人: 深圳市鸿义通仪测有限公司
主分类号: B65G47/74 分类号: B65G47/74
代理公司: 深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611 代理人: 祝晶
地址: 518000 广东省深圳市龙华*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种芯片检测机构的上下料装置,包括承载机构、限位机构、拨盘机构、料盘;承载机构包括:侧板和托臂;托臂的一端与侧板滑动连接;限位机构包括:底板、固定挡板、活动挡板;底板的一端与侧板的底端连接,固定挡板固定于底板的一端,活动挡板滑动设于底板靠近侧板的一端,拨盘机构设置于活动挡板的顶部,料盘设置于托臂远离侧板的一端。采用以上设计,通过将托臂和侧板滑动连接,使托臂可沿侧板竖直滑动,实现升降功能,匹配不同高度的工作台,提升实用性;通过活动挡板和固定挡板的设置,可将料盘从托臂上抬起,便于料盘的上下料;通过在活动挡板的顶部设置拨盘机构,实现料盘的自动上下料,提升上下料效率。
搜索关键词: 一种 芯片 检测 机构 上下 装置
【主权项】:
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