[实用新型]半导体元件的刻蚀设备有效

专利信息
申请号: 202120731459.4 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN213601836U 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 徐杰;叶魁魁 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司;台积电(中国)有限公司
主分类号: H01J37/02 分类号: H01J37/02;H01J37/305;H01L21/3065
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 娜拉
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 实用新型提供一种半导体元件的刻蚀设备,包括盖体、支撑体、石英管和升降装置。盖体具有进气口、多个出气口以及连通进气口和出气口的腔体。支撑体支撑于盖体,石英管连接于支撑体,石英管的上端与气源连通,下端延伸向进气口。升降装置设置于盖体,升降装置能够使石英管向下降落或者向上升起,以使石英管的下端与进气口连通或者分立。本申请提供的半导体元件的刻蚀设备,通过设置升降装置,无需人力移开和放回支撑体和石英管等结构,较为省力。此外,相比于人力抬起或者放下支撑体和石英管,通过升降装置实现石英管的上升或者下降,可以更好地控制石英管相对于进气口上升或者下降的位移,防止对石英管造成损坏。
搜索关键词: 半导体 元件 刻蚀 设备
【主权项】:
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