[实用新型]芯片检测装置有效
| 申请号： | 202120820024.7 | 申请日： | 2021-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN214894885U | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 彭及盈;陈光诚;汪秉龙 | 申请（专利权）人： | 久元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/956;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;曹娜 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本申请公开一种芯片检测装置，其包括芯片传送模块、第一可旋转模块、第二可旋转模块以及芯片检测模块。芯片传送模块用于传送多个芯片。第一可旋转模块包括第一可旋转结构。第二可旋转模块包括第二可旋转结构。芯片检测模块包括用于检测芯片的多个芯片检测组件。第一可旋转结构的周围表面上具有用于吸附芯片的至少一个第一吸嘴开口，且第二可旋转结构的周围表面上具有用于吸附芯片的至少一个第二吸嘴开口。借此，多个芯片能够依序从第一可旋转结构的周围表面转移到第二可旋转结构的周围表面，以使得多个芯片能够依序进行光学检测。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】：
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