[实用新型]一种半导体综合测试仪有效
| 申请号： | 202121329792.9 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN214895644U | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 吴旭艳 | 申请（专利权）人： | 上海腾尖检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/01;B07C5/38 |
| 代理公司： | 北京沃知思真知识产权代理有限公司 11942 | 代理人： | 袁辰亮 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体综合测试仪，涉及半导体测试设备技术领域。包括测试仪本体，测试仪本体上表面开设有圆孔，测试仪本体的圆孔内壁活动套接有探针，测试仪本体上表面设置有集成电线，探针通过集成电线与测试仪本体电路连接，测试仪本体上表面开设有参数显示屏，测试仪本体上表面的前端固定连接有测试台，测试仪本体上表面固定连接有挡板，测试仪本体右表面开设有插槽，放置盒右端四周表面固定连接有磁石，放置盒的磁石磁吸连接在插槽右端，放置盒右表面固定连接有把手；测试仪本体前面设置有分类机构，有效的提高了测试人员在拿取半导体时的便捷性，且降低了半导体掉落导致损害的现象发生，降低破损率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 综合 测试仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海腾尖检测技术有限公司，未经上海腾尖检测技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202121329792.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种防尘散热效果好的动力柜
- 下一篇：一种混凝土生产用除尘风机
