[实用新型]芯片测试装置有效
| 申请号： | 202121357360.9 | 申请日： | 2021-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN215599311U | 公开（公告）日： | 2022-01-21 |
| 发明（设计）人： | 吴骁;于宏新;张文荣 | 申请（专利权）人： | 上海晟矽微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种芯片测试装置，所述装置包括控制模块、测试模块，控制模块根据控制信息实现对测试模块的控制，以使得测试模块对连接的至少一个待测芯片进行测试；测试模块，包括处理单元、测试单元、接口单元、供电及复位单元，处理单元用于与所述控制模块、测试单元及供电及复位单元通信，通过测试单元及接口单元将测试程序写入待测芯片并根据控制程序执行相应的测试，供电及复位单元通过开关单元选择第一单元、第二单元、第三单元、第四单元的任意一个或多个的输出电压对测试模块和/或待测芯片供电。本实用新型实施例可以对至少一个待测芯片进行快速、自动、准确测试，得到清晰、可靠的测试结果，人工干预少，成本低，效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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