[实用新型]一种晶片的气体清洁装置有效

专利信息
申请号: 202121504734.5 申请日: 2021-07-01
公开(公告)号: CN215198664U 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 李加林;刘星;张宁;姜岩鹏;刘家朋 申请(专利权)人: 山东天岳先进科技股份有限公司
主分类号: B08B5/02 分类号: B08B5/02;B08B7/00;B08B13/00
代理公司: 北京君慧知识产权代理事务所(普通合伙) 11716 代理人: 冯妙娜
地址: 250118 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 本申请公开了一种晶片的气体清洁装置,属于半导体材料清洁技术领域。该装置包括壳体,所述晶片与所述壳体抵接,以使得所述晶片与壳体之间形成密封腔,所述密封腔内设置进气口和出气口,清洁气体自所述进气口进入所述密封腔,并传输至所述晶片表面后经所述出气口流出;和加热组件,所述加热组件置于所述壳体外侧,用于加热进入所述密封腔内的清洁气体。使用该清洁装置,将晶片放置于壳体内,使得晶片和壳体之间形成密封腔,在该密封腔内通入清洁气体,利用清洁气体对晶片表面进行清洁,并且使用加热组件对清洁气体进行加热,提高晶片的清洁效率、清洁度和晶片的使用性能。
搜索关键词: 一种 晶片 气体 清洁 装置
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