[实用新型]一种芯片老化测试装置

摘要

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是一种芯片老化测试装置,包括芯片检测端子、传送带和旋转气缸，旋转气缸固定在传送带机架一侧，旋转气缸的顶部固定有支架，支架的两端对称固定有两个伸缩气缸，伸缩气缸的输出端固定有夹持气缸，芯片检测端子固定在夹持气缸的底部，夹持气缸设有两个相对位移的输出端，夹持气缸的输出端固定有移动拨块，传送带上等距均分固定设有若干夹持工装,夹持工装上以可拆卸的方式安装内置芯片的芯片载盒，本实用新型自动化程度高，能对测试的芯片进行合格和不合格的有效分类分离，可连续测试，自动卸料，工作效率高，具有市场前景，适合推广。