[实用新型]一种集成电路检测设备有效

专利信息
申请号: 202121569857.7 申请日: 2021-07-09
公开(公告)号: CN215415529U 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 赵坤鹏;杨征 申请(专利权)人: 无锡伟测半导体科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 苗雨
地址: 214000 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种集成电路检测设备,包括机体,机体顶面设置有检测台,检测台上方设置有吸附组件,吸附组件通过位移装置与机体连接,吸附组件包括安装盘,安装盘上设置有多个第一吸盘单元和多个第二吸盘单元,各第一吸盘单元均通过第一软管与第一真空泵连接,各第二吸盘单元均通过第二软管与第二真空泵连接,安装盘上还设置有检测装置。本实用新型的多个第一吸盘单元和多个第二吸盘单元同时对集成电路进行吸附,并且第一吸盘单元和第二吸盘单元通过不同真空泵抽真空,实现了各吸盘单元的冗余设置,降低了集成电路发生掉落或者没有吸起情况的几率。
搜索关键词: 一种 集成电路 检测 设备
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡伟测半导体科技有限公司,未经无锡伟测半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202121569857.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top