[实用新型]一种接触式芯片检测设备有效
申请号: | 202121588866.0 | 申请日: | 2021-07-13 |
公开(公告)号: | CN215297583U | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 陆青 | 申请(专利权)人: | 深圳市芯都半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777 | 代理人: | 王再兴 |
地址: | 518100 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及电气设备领域,且公开了新型一种接触式芯片检测设备,包括包括测试仪本体,测试仪本体正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构,测试仪本体正面一侧的底部开设有两个USB插槽,测试仪本体的外壁两侧均固定连接有两个连接板,置于测试仪本体外壁两侧的两个连接板之间设有支撑机构,本实用新型通过在HDMI接口处设置有接线固定机构,其中的弹簧、滑动柱、限位柱使得测试仪本体接口处连接更加稳定,通过将滑动柱向上抬动,从而使得两个滑动柱的一侧分别在容纳槽的内壁滑动,同时对两个弹簧进行拉伸,当使用者将连接线完全插入进接口处时,通过松开滑动柱,从而使得固定柱与限位柱将连接线进行固定,提高连接的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 接触 芯片 检测 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市芯都半导体有限公司,未经深圳市芯都半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202121588866.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种旋挖钻机钻具扩孔组件
- 下一篇:一种双层蒙皮二胡琴筒