[实用新型]一种针对半导体的真空测试计有效
| 申请号： | 202121805159.2 | 申请日： | 2021-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN215493719U | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 刘国清;胡旭伟 | 申请（专利权）人： | 杭州必耕自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 | 代理人： | 沈相权 |
| 地址： | 311201 浙江省杭州市萧山*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种针对半导体的真空测试计，包括便携箱和测试件，测试件上表面右侧的前部设有卡接机构，卡接机构包括固定箱座和调节盘，固定箱座的底部与调节盘转动连接，固定箱座的内部设有多组滑座，滑座与固定箱座之间固定连接有第一弹簧，固定箱座的上下表面均开设有多组限位滑槽，本实用新型涉及半导检测技术领域。该针对半导体的真空测试计，通过转动手推杆带动调节盘转动，从而使弧形槽道带动推杆连接的滑座向外侧移动，放置待测试的半导体，第一弹簧推动滑座向内侧移动，使卡座卡住半导体，通过转动压座抵压在半导体的上部，使待测试半导体固定稳定，适用于不同尺寸规格的产品，可以减低成本，方便操作和使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 半导体 真空 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州必耕自动化设备有限公司，未经杭州必耕自动化设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202121805159.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
