[实用新型]一种芯片测试结构有效
| 申请号： | 202121812705.5 | 申请日： | 2021-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN216209644U | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 宁丽娟 | 申请（专利权）人： | 深圳市福瑞达电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646 | 代理人： | 张欢欢 |
| 地址： | 518107 广东省深圳市光明区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及均匀设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，其中，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片设置在所述测试座主体上，并且所述第一测试片和第二测试片相邻的外表上均涂有绝缘材料，其中，所述第一测试片和第二测试片均分别包括有测试片主体、第一接触端、以及第二接触端，所述测试片主体设于所述测试座主体上，所述第二接触端包括有一体成型的弯折部和连接部，所述连接部的端部连接有沿Z轴方向延伸的接触部。上述芯片测试结构便于第一测试片和第二测试片的安装和更换，并且与PCB板的接触也更加的稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 结构 | ||
【主权项】：
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