[实用新型]一种新型射频芯片测试装置有效
申请号: | 202121855838.0 | 申请日: | 2021-08-10 |
公开(公告)号: | CN215575515U | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | 黄哲尔;沈义明;韦宗专 | 申请(专利权)人: | 上海凌测电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 | 代理人: | 何艳娥 |
地址: | 201805 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种新型射频芯片测试装置,涉及芯片测试技术领域,射频测试设备前端下方开设有预留槽,且射频测试设备前端并位于预留槽下方铰接有附属板,附属板外壁下方嵌接有把手,且附属板内壁均匀嵌接有若干个夹持环一,附属板内壁且位于夹持环一前端均设有夹持环二,且夹持环二底端固定有嵌入于附属板内部的伸缩轴,夹持环二内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠,射频测试设备前端且位于附属板下方紧密粘接有防撞垫板,且把手随附属板的开启而抵住防撞垫板,一组固线结构针对一根线缆进行固线,使得线缆从插接件到被测芯片元件之间的一段位置被定位,线缆之间输出时不易相互缠卷。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 射频 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】:
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