[实用新型]用于半导体工艺的工艺腔室有效

专利信息
申请号: 202122053224.7 申请日: 2021-08-27
公开(公告)号: CN215896299U 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 郭士选;黄亚辉;刘钊成 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01J37/02 分类号: H01J37/02
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 高东
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开一种用于半导体工艺的工艺腔室,涉及半导体加工技术领域。该工艺腔室包括内衬、内衬接地件、真空螺钉、密封组件和腔体,内衬设置于腔体内,腔体设置有抽气端,抽气端用于抽取腔体内的气体,内衬接地件设置于内衬朝向抽气端的一侧;内衬设置有装配孔,真空螺钉穿过装配孔并与内衬接地件相连,内衬接地件开设有螺孔和排气孔,螺孔与真空螺钉螺纹配合,排气孔的第一端与螺孔的连通,排气孔的第二端与内衬接地件的远离内衬一侧连通;密封组件包括螺钉帽,螺钉帽套设于真空螺钉的远离内衬接地件的一端,且螺钉帽与内衬密封配合。该方案能解决工艺腔室容易被颗粒物污染的问题。
搜索关键词: 用于 半导体 工艺
【主权项】:
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