[实用新型]去耦合电容电路结构有效

专利信息
申请号: 202122278280.0 申请日: 2021-09-18
公开(公告)号: CN216488070U 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 熊剑锋;刘斌 申请(专利权)人: 珠海妙存科技有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L23/52;H01L27/088
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 郑晨鸣
地址: 519000 广东省珠海市横琴新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及集成电路设计技术领域,公开了一种去耦合电容电路结构,本实用新型包括PMOS管、NMOS管、第一多晶硅层、第二多晶硅层、第一至第四金属层及第一、第二基准多晶硅;PMOS管具有第一有源区、第一衬底以及第一栅极接触孔,第一有源区内设有第一源极接触孔阵列、第一栅极区和第一漏极接触孔阵列;NMOS管具有第二有源区、第二衬底以及第二栅极接触孔,第二有源区内设有第二源极接触孔阵列、第二栅极区及第二漏极接触孔阵列。本实用新型利用多晶硅层作为MOS管的栅极多晶硅结构,并使基准多晶硅并入到对应的多晶硅层,能够降低寄生电阻值;将金属层覆盖在对应的衬底、多晶硅层和基准多晶硅上,扩大接触面积,能够降低寄生电阻值且提高寄生电容值。
搜索关键词: 耦合 电容 电路 结构
【主权项】:
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