[实用新型]一种集成电路的封装检测装置有效
申请号: | 202122287672.3 | 申请日: | 2021-09-22 |
公开(公告)号: | CN216955746U | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 肖得运 | 申请(专利权)人: | 山东拓普康技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01M3/02;B25H1/08 |
代理公司: | 山东智达联合专利代理事务所(普通合伙) 37303 | 代理人: | 魏巧真 |
地址: | 250000 山东省济南市高*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型提供一种集成电路的封装检测装置,包括底座、滑轨和移动板,底座内侧设有滑轨,且滑轨与底座活动连接,滑轨上端设有移动板,且移动板与滑轨活动连接,底座右侧设有检测箱,且检测箱与底座活动连接,检测箱左下端设有水箱,且水箱与检测箱固定连接,水箱上端设有注水口,且注水口与水箱固定连接,检测箱内侧左右上端分别设有出水管道。该种集成电路的封装检测装置通过结构的改进,使本装置在实际使用时,通过检测仪对集成电路的封装密封性能检测,加快了对集成电路检测的速度,使本装置在实际使用时,通过镜片和针孔探头对集成电路外表是否出现裂痕进行检测,避免因人工检测不到位,使不合格的集成电路流出市场。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 封装 检测 装置 | ||
【主权项】:
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