[实用新型]一种半导体测量设备

摘要

本实用新型公开了一种半导体测量设备，涉及半导体技术领域，半导体测量设备，包括测量台和支撑柱，支撑柱固定于测量台左端中部，且支撑柱顶部垂直向上固定有立板；测量台上表面开有两条对角分布的转槽，且转槽内均转动连接有螺纹杆，螺纹杆外部均套入有与其螺纹连接的螺纹套，且螺纹套顶部焊接有直角夹板，直角夹板内壁均贴合有软垫；立板靠内的一侧开有侧口，且侧口内底部安装有电推杆，侧口内活动嵌入有向右侧延伸的活动杆，且活动杆外壁前后侧均开有滚槽；本实用新型有益效果为：便于根据不同尺寸的半导体进行调整固定，提高半导体在测量时的固定性，避免松动，同时有效提高了测量结果的准确性。