[实用新型]一种半导体晶片探针测试设备有效
| 申请号： | 202122423435.5 | 申请日： | 2021-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN215986141U | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 程波;程鹏 | 申请（专利权）人： | 无锡晶名光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 苗雨 |
| 地址： | 214000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及探针测试仪技术领域，具体为一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪和调节装置，所述测试仪的表面固定安装检测台，所述测试仪的表面均匀固定安装有三个显示屏，所述测试仪的表面均匀电性连接有若干个按钮，所述测试仪的表面设有调节装置，所述调节装置包括两个限位框，两个所述限位框均与测试仪的表面固定连接。本实用新型，通过设置调节装置，对测试仪的高度进行调节，方便了较高工作人员对于测试仪的使用，降低了工作人员的工作劳度，提高了工作人员的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 晶片 探针 测试 设备 | ||
【主权项】：
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