[实用新型]半导体工艺腔室及半导体工艺设备有效

专利信息
申请号: 202122509452.0 申请日: 2021-10-18
公开(公告)号: CN216624211U 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 高雄;孙伟 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;王婷
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供一种半导体工艺腔室,包括腔体、供气组件以及设置在腔体中的基座和导气板,导气板间隔设置在基座与腔体的顶壁之间,导气板、腔体的侧壁和顶壁围设成一空腔,导气板上形成有多个沿厚度方向贯穿导气板的导气孔,半导体工艺腔室还包括供气组件,供气组件用于向空腔内提供吹扫气体,以在导气板朝向基座一侧形成气流层。在本实用新型中,供气组件能够向导气板与腔体的顶壁之间提供吹扫气体,使吹扫气体在充满导气板与顶壁之间的间隙后通过导气孔向下逸出,进而在导气板底部形成气垫保护层,阻止反应气体向顶壁及导气板扩散并生长出反应产物,保持顶壁的洁净度,进而降低晶圆表面的颗粒数量。本实用新型还提供一种半导体工艺设备。
搜索关键词: 半导体 工艺 工艺设备
【主权项】:
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