[实用新型]一种具有数据分析的半导体载荷测试装置

摘要

本实用新型公开了一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台，所述工作台上固定安装有固定架，所述固定架和工作台之间转动安装有丝杆，所述丝杆的丝杆座上固定连接有连接板，所述连接板的下端通过连接杆安装有检测头，所述工作台上固定安装有底座，所述底座上安装有压力传感器，所述压力传感器上设置有支撑座，所述支撑座上开设有凹槽，所述支撑座上滑动安装有两组L形的支架，所述支架的内壁滑动安装有压板，本实用新型在半导体载荷测试时提高了对半导体的夹紧限位效果，在较大程度上降低了检测头下压过程中半导体发生的偏移量，进而提高了测试结果的精度。