[实用新型]一种双轴扫查装置有效
申请号: | 202122816655.4 | 申请日: | 2021-11-17 |
公开(公告)号: | CN216771597U | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 张乐;肖爱武;石欢;李一;严小波;聂衍;倪诗杰;吴昊锋;张瑞娇 | 申请(专利权)人: | 国核电站运行服务技术有限公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/265 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 蔡东升 |
地址: | 200233 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了无损检测技术领域的一种双轴扫查装置,包括扫查轴,扫查轴用于与待检测工件连接固定;第一编码器,第一编码器设置于扫查轴上,并与待检测工件可相对移动;步进轴,步进轴垂直扫查轴设置,并与第一编码器连接;第二编码器,第二编码器可轴向移动的设置于步进轴上;探头架,探头架设置于所述第二编码器上,用于固定超声相控阵探头。本实用新型通过第一编码器的移动带动步进轴在待检测工件上移动,通过第二编码器的移动带动探头架在待检测工件上移动,实现对待检测工件的全面扫查;通过第一编码器和第二编码器对超声相控阵探头的位置进行检测,实现对待检测工件缺陷位置的精确定位。 | ||
搜索关键词: | 一种 双轴扫查 装置 | ||
【主权项】:
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