[实用新型]一种用于检测芯片漏电流的检测设备有效
申请号: | 202122896854.0 | 申请日: | 2021-11-24 |
公开(公告)号: | CN216351153U | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 郑云华 | 申请(专利权)人: | 合肥矽景电子有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/52 | 分类号: | G01R31/52;G01R31/28 |
代理公司: | 苏州大智知识产权代理事务所(普通合伙) 32498 | 代理人: | 赵枫 |
地址: | 230000 安徽省合肥市高新*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型涉及芯片技术领域的一种用于检测芯片漏电流的检测设备,包括装置主架,所述装置主架的中间安装有输送带,所述输送带的前表面中间设置有检测架,所述输送带的前表面底端安装有芯片放置板,所述芯片放置板的前表面开设有三个放置槽,三个所述放置槽的内部均安装有承载块,所述承载块的后表面固定连接有推杆,所述推杆的前表面和后表面均安装有固定导轨。通过设计的安装在放置槽内部的承载块、推杆、锁止件、固定导轨和转动座便于对芯片放置在放置槽中进行检测,同时方便拿取,在拿取时只需按压芯片,则承载块可在限位弹簧的作用下向上移动,带动芯片从放置槽中移出,大大的节省了工作人员对芯片的拿取时间,带来了很好的发展前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 芯片 漏电 设备 | ||
【主权项】:
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