[实用新型]芯片测试装置及系统有效
| 申请号： | 202123126931.0 | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN216449690U | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 萨斌;王刚 | 申请（专利权）人： | 北京集创北方科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技术开发区景园北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种芯片测试装置及系统，所述装置包括：装置主体；移动产业处理器接口MIPI芯片，设置于所述装置主体上，所述MIPI芯片包括第一接口及第二接口，所述第一接口用于接收测试数据，所述第二接口连接于待测芯片，所述第二接口用于将所述测试数据传输到所述待测芯片，以对所述待测芯片进行测试。本实用新型实施例提供的芯片测试装置通过成熟的MIPI芯片对待测芯片进行测试，可以有效降低芯片测试的复杂度，并降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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