[实用新型]一种芯片测试探针装置有效
| 申请号： | 202123140167.2 | 申请日： | 2021-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN216434188U | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 曾丹萍;秦超强 | 申请（专利权）人： | 深圳市海芯微迅半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 广东奥益专利代理事务所(普通合伙) 44842 | 代理人： | 田树杰 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试探针装置，包括底座、顶板、升降板，以及设于底座上的电机，电机上设有丝杆，底座上开设有导轨，导轨内滑动卡接有滑座，滑座上设有导滚珠、缓冲腔，缓冲腔内设有缓冲座、缓冲弹簧，缓冲座上设有IPT帽杆，IPT帽杆上设有芯片，升降板上设有安装块，安装块上设有锁止销、探针电路板，探针电路板上设有测试探针。提高了滑座以及具有芯片的IPT帽杆整体在导轨中的移动顺滑性和防脱性，可实现芯片对测试探针的下压顶力的有效缓冲卸力防护，避免测试探针硬性顶压芯片而造成芯片压伤的情况，实现探针电路板以及测试探针的整体方便拆卸并更换新的整体一套，进而提高了对芯片测试的精准质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 探针 装置 | ||
【主权项】：
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