[实用新型]基于深矢高工件的内壁测量系统有效
申请号: | 202123328248.5 | 申请日: | 2021-12-27 |
公开(公告)号: | CN216846033U | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 陈远流;胡朋;居冰峰 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01B5/20 | 分类号: | G01B5/20 |
代理公司: | 杭州易中元兆专利代理有限公司 33341 | 代理人: | 张安心 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种深矢高工件内壁全面形测量方法,具体涉及一种基于深矢高工件的内壁测量系统,包括:水平底座,其上设有XY定位平台,XY定位平台包括X方向移动的X向运动平台以及Y方向移动的Y向运动平台;转台、工件座、竖直底座;侧向计,设置在所述Z向运动平台上,用于对深矢高工件的内壁侧壁进行测量;以及轴向计,设置在所述Z向运动平台上用于对深矢高工件的内壁底壁进行测量。本专利结合侧向计与轴向计对深矢高工件进行内壁壁形的测量,该测量结构以及测量方式不受光纤影响,且针对各种尺寸不同的深矢高工件均可以达到测量目的。 | ||
搜索关键词: | 基于 深矢高 工件 内壁 测量 系统 | ||
【主权项】:
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