[实用新型]温度传感器芯片测控系统有效
申请号: | 202123452031.5 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN217132396U | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 黄江波 | 申请(专利权)人: | 山东华科半导体研究院有限公司 |
主分类号: | G01K7/18 | 分类号: | G01K7/18;G01K1/02 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 250000 山东省济南市高新区飞*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 温度传感器芯片测控系统,涉及芯片测试技术。本实用新型包括主控板和载片板,还包括子控板,所述主控板具有下述部分:子控板通信接口,用于与子控板建立通信;PC控制接口,用于与外部计算机建立通信;温箱控制接口,用于与温箱建立控制通信;控制模块,用于对巡检仪和各个子控板的解码寻址;巡检仪接口,用于连接巡检仪;所述子控板具有上级通信接口和用于与载片板通信的下级通信接口。采用本实用新型的技术,可以自动对芯片进行校准,无需人工干预。 | ||
搜索关键词: | 温度传感器 芯片 测控 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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