[发明专利]X射线荧光分析仪在审
| 申请号： | 202180002585.9 | 申请日： | 2021-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN113950621A | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 朴正权 | 申请（专利权）人： | ISP株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 李盛泉;孙昌浩 |
| 地址： | 韩国全罗*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线荧光分析仪，包括：试料盒，容纳有液态试料；X射线发生部，向试料盒内部的一侧面照射X射线；及检测仪，为了在X射线发生部照射的X射线与试料盒内部的液态试料反应而向试料盒外侧释放荧光X射线时，使向试料盒外侧释放的荧光X射线在空气中的吸收实现最小化，从而沿着从试料盒内部向试料盒外侧释放的荧光X射线的距离最短的试料盒的一侧面布置，检测荧光X射线。根据本发明，可以在相对于试料盒内侧壁面最大限度邻接的状态下照射X射线，在使液态所致吸收最小化的同时，放大所释放的荧光X射线，无需真空排气便能够在大气环境下更精密测量对象元素。另外，布置二次靶，利用将由该靶发生的特性X射线再次照射于试料的结构，使不可避免浪费的射线再次返回到试料盒的内侧，从而可以增大其效率。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 分析 | ||
【主权项】：
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