[发明专利]光学式检测装置以及光学式检测装置中的光轴偏移判定方法在审
| 申请号： | 202180016629.3 | 申请日： | 2021-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN115176171A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 清野光宏 | 申请（专利权）人： | 株式会社电装 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 邰琳琳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学式检测装置(10)。光学式检测装置(10)具备：发光部(30)，具备多个发光元件(32)；受光部(20)，具备受光元件阵列(22)，该受光元件阵列(22)由接受与发光部(30)的照射光相应的反射光的多个受光像素形成；储存部，储存与发光部(30)的照射光所包含的光强度斑的产生位置对应的受光元件阵列(22)中的基准受光区域；以及判定部(100)，使用基准受光区域和受光元件阵列(22)中的照射光的反射光所包含的光强度斑的检测受光区域的位置偏移来判定光轴偏移。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 装置 以及 中的 光轴 偏移 判定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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