[发明专利]用于优化的干涉散射显微镜的方法和装置在审
申请号: | 202180022439.2 | 申请日: | 2021-03-15 |
公开(公告)号: | CN115516362A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 约西亚·凯恩;马克斯·费利克斯·汉特克;刘易斯·卡尔尼 | 申请(专利权)人: | 雷费恩有限公司 |
主分类号: | G02B21/14 | 分类号: | G02B21/14;G01N15/14;G02B21/36 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 陈鑫;姚开丽 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
一种通过干涉散射显微镜对样品成像的方法,该方法包括:使用至少一个光源对样品进行照射,样品被保持在包括反射表面的样品位置处,使得形成反射信号,反射信号包括来自所述光源的光以及由所述样品散射的光;在第一帧N |
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搜索关键词: | 用于 优化 干涉 散射 显微镜 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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