[发明专利]用于选择性蚀刻硅-锗材料的组合物及其用途和方法在审

专利信息
申请号: 202180061341.8 申请日: 2021-08-18
公开(公告)号: CN116195036A 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: F·J·洛佩兹比利亚努埃瓦;A·克里普;S·弗里施胡特;罗智晖;沈美卿 申请(专利权)人: 巴斯夫欧洲公司
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 王丹丹;刘金辉
地址: 德国莱茵河*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于在包含硅的层存在下选择性蚀刻包含硅锗合金(SiGe)的层的组合物,所述组合物包含:(a)5至15重量%的氧化剂;(b)5至20重量%的包含氟离子源的蚀刻剂;(c)0.001至3重量%的式S1(S1)的第一选择性增强剂和(d)水,其中RS1选自XS‑OH和YS‑(CO)‑OH;RS2选自(i)RS1、(ii)H、(iii)C1至C10烷基、(iv)C1至C10烯基、(v)C1至C10炔基和(vi)‑XS‑(O‑C2H3RS6)m‑ORS6;RS6选自H和C1至C6烷基;XS选自直链或支链C1至C10烷二基、直链或支链C2至C10烯二基、直链或支链C2至C10炔二基和‑XS1‑(O‑C2H3R6)m‑;YS1选自化学键和X;XS2是C1至C6烷二基;m是1至10的整数。
搜索关键词: 用于 选择性 蚀刻 材料 组合 及其 用途 方法
【主权项】:
暂无信息
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