[发明专利]检查方法在审

专利信息
申请号: 202180066971.4 申请日: 2021-10-25
公开(公告)号: CN116420101A 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 小林信次;松田俊介;森里惠 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王中苇
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明是对具备层叠偏振膜(11)和相位差膜(14)而成的圆偏振板(1)、以及层叠在圆偏振板(1)的相位差膜(14)侧且由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂构成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10)有无缺陷进行判断的检查方法。配置光源(4)、透过规定的波长的光的带通滤光片(2)、第一偏振部(3A)、被检查物(10)以及第二偏振部(3B),以使剥离膜(16a)所具有的相位差的影响变小的方式使光向被检查物(10)的入射角θ发生变化。从第二偏振部(3B)侧对被被检查物(10)反射的光进行观察,从而判断圆偏振板(1)有无缺陷。
搜索关键词: 检查 方法
【主权项】:
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