[发明专利]一种无取向硅钢析出物的检测分析方法在审
| 申请号： | 202210011882.6 | 申请日： | 2022-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN114487487A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 程林;张立峰;刘云霞;刘晓强;刘兆月;刘恭涛;曹瑞芳;董晨曦;陈继冬;李跃 | 申请（专利权）人： | 首钢智新迁安电磁材料有限公司 |
| 主分类号： | G01Q30/20 | 分类号： | G01Q30/20;G01Q30/02;G01Q30/04 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 郭士超 |
| 地址： | 064400 河北省唐*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本申请涉及材料分析测试领域，尤其涉及一种无取向硅钢析出物的检测分析方法；所述方法包括：得到硅钢样品；将硅钢样品进行表面处理，得到纯净样品；将纯净样品进行电解腐蚀、冲洗和干燥，得到待检测样品；将待检测样品沿厚度方向设定为边缘层、次表层和中心层；将边缘层、次表层和中心层分别按照多个设定点位进行电镜图形的采集，得到边缘层的样品电镜图样、次表层的样品电镜图样和中心层的样品电镜图样；通过对前期制样过程中控制工艺参数，再通过在待检测样品的厚度方向的不同位置进行电镜图形的采集，对得到的电镜图样进行统计分析，能准确统计无取向硅钢的析出物数量和析出物的尺寸数据，从而能准确表征无取向硅钢的析出物。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 取向 硅钢 析出 检测 分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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