[发明专利]基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法和装置

摘要

本申请涉及一种基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取评价对象的评价指标，对所述评价指标进行预处理获取预处理结果；所述预处理过程包括对原始数据的标准化处理和基于主成分分析的数据降维处理，基于Topsis法对所述预处理结果进行综合评价，获取所述评价对象与理想解的距离；所述理想解包括正理想解和负理想解，基于所述评价对象与理想解的距离，获取评价对象与理想解的相对接近程度，基于所述相对接近程度对所述评价对象进行评价。采用本方法能够提高评价结果的真实性和准确性。