[发明专利]存储器的自修复电路、芯片在审
| 申请号： | 202210021947.5 | 申请日： | 2022-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN114550807A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 章伟;陈诗卓;张雷 | 申请（专利权）人： | 苏州萨沙迈半导体有限公司;合肥智芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C7/10 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 欧阳高凤 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器的自修复电路、芯片。其中，电路包括：通过测试总线与N个存储器连接以检测得到故障存储器的故障信息的内建自测试状态机，N为大于1的整数；内建自修复模块具有与存储器一一对应的第一、二修复信号输出端，以根据故障信息生成第一修复信号，以及在故障存储器的缺陷个数小于等于1时生成对应的第二修复信号，并通过对应的第一、二修复信号输出端输出第一、二修复信号；锁存器模块具有与上述第一、二修复信号输出端分别对应连接的N个第一、二修复信号输入端及与存储器一一对应连接的目标修复信号输出端，用于在测试功能模式下，在接收到第二修复信号时对相应的第一修复信号进行锁存，并生成相应的目标修复信号以进行修复。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 修复 电路 芯片 | ||
【主权项】：
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