[发明专利]一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法有效
| 申请号： | 202210042244.0 | 申请日： | 2022-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN114299062B | 公开（公告）日： | 2023-03-17 |
| 发明（设计）人： | 蔡剑;李堃;黄鉴;叶选新;蔡杰羽;石炳磊;白海楠;朱诗文 | 申请（专利权）人： | 苇创微电子（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 广州京诺知识产权代理有限公司 44407 | 代理人： | 于睿虬 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，包括：S1将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏；S2拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像；S3对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值；S4统计子像素亮度值的统计分布方差 |
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| 搜索关键词： | 一种 用于 提高 显示器 mura 测量 精度 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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