[发明专利]性能验证方法、装置、存储介质及计算机设备在审
| 申请号： | 202210054689.0 | 申请日： | 2022-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN114398214A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 鄂长江;张旭峰;康霁雯;王顺福;王超 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 范旋锋 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及性能验证方法、装置、存储介质及计算机设备，其中，所述方法包括：根据待测电路设计确定所述待测电路设计对应的测试场景；根据所述测试场景确定所述测试场景对应的测试用例；根据所述测试场景和所述测试用例，为所述待测电路设计搭建性能测试模型，并将所述测试用例输入所述性能测试模型，并执行性能验证。本申请技术方案能够在芯片前端开发阶段就可以对IP级的待测电路设计进行性能验证，从而降低性能验证的周期，尽早尽可能地发现芯片开发过程中的性能缺陷，以便及时进行修复，从而提高芯片开发的效率，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 验证 方法 装置 存储 介质 计算机 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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