[发明专利]一种用于天线OTA测试的球面采样方法

摘要

本发明公开了一种用于天线OTA测试的球面采样方法，包括步骤1：根据待测天线口径，计算θ轴最小采样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ；步骤2：计算θ点数；步骤3：取i＝0，根据步骤2计算的θ点数，计算θ角度坐标θi；步骤4：根据θi取值，计算当前θi角度下的φ点数；步骤5：取j＝0，根据步骤4计算的Nφi，计算φ角度坐标φij，记录当前采样点(θi，φij)；步骤6：将j增加1，循环执行步骤5，直到φij≥2π或j＞Nφi‑1；步骤7：将i增加1，循环执行步骤3～6，直到θi≥π或i＞Nθ‑1，完成采样点取值。本发明在采样点数较少的情况下保证了采样精度，且可连续采样，在实现快速采样的同时，能够为研究人员提供其关心的多个主切面方向图数据。