[发明专利]一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202210129123.X 申请日: 2022-02-11
公开(公告)号: CN114487611A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 史煜仲 申请(专利权)人: 深圳市思码逻辑技术有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R33/12
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 姚泽鑫
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及电参数提取技术领域,提出一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质。该方法首先检测未装填待测物料的测试夹具两端的第一散射参数,以及检测已装填待测物料的该测试夹具两端的第二散射参数;然后,通过第一散射参数和第二散射参数可以计算得到该测试夹具的盒状结构中未装填待测物料部分的第一长度;接着,根据第一散射参数、第二散射参数和第一长度计算出待测物料的折射率和波阻抗;最后,根据折射率和波阻抗,计算得到待测物料的电磁参数。上述过程在实施时无需使用校准件对测试夹具进行校准,提高了用户操作的便捷性。
搜索关键词: 一种 电磁 参数 测试 方法 装置 终端设备 存储 介质
【主权项】:
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