[发明专利]老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202210152658.9 | 申请日： | 2022-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN114546741A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 袁静 | 申请（专利权）人： | 烽火超微信息科技有限公司;烽火通信科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430000 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：对待测试部件组进行老化测试，并记录在设定时长T内各个时间段的故障个数，其中T包含的时间段的总个数为M，每个时间段的时长为t；计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，其中N的初始值为1；若故障率之和不大于第一阈值，则以N+1作为N，再重新计算前N个时间段的故障率之和；若故障率之和大于第一阈值，则判断N是否小于M；若N小于M，则设定待测试部件组的老化时间为N*t；若N等于M，则设定待测试部件组的老化时间为T+t。通过本发明，解决了现有方案中对待测试部件进行老化时间的设定的方法不够灵活，无法对老化时间进行动态调节的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 时间 设定 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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