[发明专利]一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统有效
| 申请号： | 202210184308.0 | 申请日： | 2022-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN114563666B | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 邓苑婷 | 申请（专利权）人： | 广州嘉逸电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510000 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其包括可并排放置若干半导体的测试台和测试台上方设置的用于测试半导体绝缘性的测试装置，测试装置包括位于测试台上方并排设置的若干蓄电池、位于若干蓄电池下方设置的若干电压表、与蓄电池和电压表分别通过导线电性连接的若干测试针。本发明通过设置的测试台和测试装置，利用若干测试口定位放置若干半导体，并利用测试轴同步带动每个测试口上方的四个测试针触压半导体，然后通过蓄电池为每个测试口处两外侧的测试针通入电流，再通过电压表测得中间两个测试针的电压，即可根据电阻率公式算得其绝缘性，其批量测试效率高，具有实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 液晶 半导体 绝缘性 测试 绝缘 特性 系统 | ||
【主权项】：
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