[发明专利]一种辐射定位和强度探测方法和系统以及电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202210244991.2 | 申请日： | 2022-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN114397688A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 张舒羽;韩东明;黄碗明;冯铁男 | 申请（专利权）人： | 核工业四一六医院;上海策溯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16 |
| 代理公司： | 北京知果之信知识产权代理有限公司 11541 | 代理人： | 高科 |
| 地址： | 610057 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种辐射定位和强度探测方法和系统，在辐射探测器组成的辐射成像面阵中增加两个互相垂直碲锌镉辐射强度传感器，所述辐射强度传感器分别垂直于所述辐射成像面阵。该方法包括采用双目成像方案，获得辐射探测器所探测区域的三维立体视图；获取所述三维立体视图下每个区域的辐射能量值；标定所述三维立体视图的每个点与相对应的所述辐射能量值的数据。本申请解决了相关技术中不能实现更精准更直观的辐射定位，对辐射强度的检测也不够精准，不便于辐射源跟踪的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 定位 强度 探测 方法 系统 以及 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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