[发明专利]并线检测方法、并线检测光学装置及并线检测系统有效
| 申请号： | 202210268959.8 | 申请日： | 2022-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN114714525B | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 曹建伟;朱亮;卢嘉彬;王金荣;邱文杰;周锋;黄佳辉;冯长春 | 申请（专利权）人： | 浙江晶盛机电股份有限公司 |
| 主分类号： | B28D5/00 | 分类号： | B28D5/00;B28D5/04 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 聂智 |
| 地址： | 312300 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种并线检测方法、并线检测光学装置及并线检测系统。一种并线检测方法，包括步骤：将内部具有全反射光线的透光件放置于多根切割线组成的线网的一侧；移动透光件直至与线网相接触；线网使透光件的表面发生受抑制的全反射现象，透光件的表面出现明暗变化；缩小观察范围至透光件表面的亮度增加区域；于亮度增加区域寻找线网的并线处。上述并线检测方法，利用透光件内部发生的全反射现象，线网的多根切割线会对透光件的表面产生不同的压力及不同的接触面积，造成透光件的表面产生受抑制的全反射现象，从而出现明暗变化，于亮度增加区域寻找线网的并线处，有效地缩小了并线检查的检查范围，提升了并线检查的速度和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 光学 装置 系统 | ||
【主权项】：
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