[发明专利]事件检测方法、事件检测系统以及程序在审
| 申请号： | 202210336691.7 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN115143870A | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 井口和之 | 申请（专利权）人： | 旭化成微电子株式会社 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00;H04M1/72454 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种事件检测方法、事件检测系统以及程序，事件检测方法通过使用磁传感器检测预先决定的由磁场产生部产生的2轴以上的磁场，来检测与磁场产生部的位置相应的事件，该事件检测方法包括以下阶段：基于使用磁传感器检测出的磁场来获取事件产生位置；基于事件产生位置，选择用于检测事件的检测轴；计算检测轴上的与事件产生位置相应的触发阈值；以及获取表示使用磁传感器检测出的磁场与触发阈值满足规定的条件的触发信号。 | ||
| 搜索关键词： | 事件 检测 方法 系统 以及 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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