[发明专利]一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置在审
| 申请号： | 202210342306.X | 申请日： | 2022-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN114719979A | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 何正龙;方波;邬佳璐;郑捷;王震;蔡晋辉 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学;杭州大华仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02;G01N21/3586 |
| 代理公司： | 宁波华拓同亿专利代理事务所(普通合伙) 33432 | 代理人： | 南梦怡 |
| 地址： | 310000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置，包括太赫兹源、孔径光阑、离轴抛物面镜、分束镜、反射镜M2、反射镜M1，透镜、待测物体和探测器，所述装置将太赫兹波长测量与太赫兹扫描成像一体化，太赫兹波长测量与太赫兹扫描成像共用太赫兹源、光阑、离轴抛物面镜、分束镜、反射镜M2、反射镜M1、透镜和探测器，所述离轴抛物面镜、分束镜、反射镜M1三器件中心位于同一直线上。该太赫兹波长测量与扫描成像一体化装置，将太赫兹波长测量与太赫兹扫描成像进行一体化设计，共用太赫兹源、孔径光阑、离轴抛物面镜、分束镜、反射镜、透镜和探测器，实现高精度的波长测量与物体扫描成像，减小了装置体积，使装置具备功耗低、效率高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 波长 测量 扫描 成像 一体化 装置 | ||
【主权项】：
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