[发明专利]一种驱动并联电阻的检测电路在审
| 申请号： | 202210349652.0 | 申请日： | 2022-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN114705916A | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 关晶晶;冯林 | 申请（专利权）人： | 上海南芯半导体科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 杜阳阳 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种驱动并联电阻的检测电路，包括：运算放大器、外部并联电阻R、MOS管M1、MOS管M2、MOS管M3、MOS管M4、MOS管M5、MOS管M6、MOS管M7、MOS管M8、MOS管M9、电阻Rz1、电阻Rz2、电阻Rz3、电阻Rz4以及逻辑电路组。本发明通过运算放大器构成箝位电路，给驱动引脚的外部并联电阻R上加固定电压，从而产生和外部并联电阻R成反比的电流信息。然后进行电流比较，比较的参考电流同样来自于运放的箝位环路，参考电流由箝位电路和内部电阻决定，可识别的驱动外部并联电阻R档位可通过内部电阻Ra、Rb、Rc进行设置。由于电阻Rz1的串联，能够产生一个跟随DRV端极点变化的零点，从而补偿该极点对环路的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 驱动 并联 电阻 检测 电路 | ||
【主权项】：
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